Öz:Bu çalışmada, şekil hatırlamalı alaşım grubu içinden, üretimi ucuz ve endüstride kullanılabilirliği olan CuAl ve ve Cu86Al12-X2 (% kütlece oranda) (X=Cr, Nb, Ti, Hf) şekil hatırlamalı polikristal alaşımlar oksitlenme özellikleri üzerine bir çalışma yapılmıştır. Bu alaşımların geliştirilmesi için yüksek sıcaklıkta en çok 900 oC de ısıl işlem yaptığı bilinmektedir. Bu nedenle çok sık kullanılan bu sıcaklık değerinde, alaşımların sıcaklıkla oksitlenme özelliğini bakılması önemlidir. Alaşımların hepsine TG/DTA (termogravimetrik analiz) cihazı ile oksitlenme işlemi yapılmış ve oksidasyon sabiti değerleri hesaplanmıştır. Oksidasyon sabiti en yüksek olan alaşımın Cu86Al12Hf2 alaşımı, en düşük olan alaşımın Cu86Al12Nb2 alaşımı olduğu tespit edildi. Ayrıca SEM-EDX ile yapılan yüzey morfoloji incelemelerinde, Cu88Al12 ve Cu86Al12Ti2 alaşımları dışında diğer alaşımlarda kabuk şeklinde oksit tabaka görülürken, Cu88Al12 ve Cu86Al12Ti2 alaşımlarında topak şeklinde oksit bölgelere rastlanmıştır. Bütün alaşımlarda oksit tabakalarının olduğu x ışınları analizi sonucu da tespit edilmiştir.
Abstract:In this study, the oxidation properties of CuAl and Cu86Al12-X2 (X = Cr, Nb, Ti, Hf) shape memory polycrystalline alloys, which are inexpensive and industrially usable, were studied from the shape memory alloy group. It is known that these alloys are heat treated at high temperatures up to 900 oC for the development of these alloys. For this reason, it is important to examine the oxidation properties of alloys with temperature at this frequently used temperature value. Alloys were oxidized with TG/DTA (thermogravimetric analysis) device and oxidation constant values were calculated. The alloy Cu86Al12Hf2 with the highest oxidation constant was found to be the lowest alloy Cu86Al12Nb2 alloy. In the surface morphology studies made with SEM-EDX, except for Cu88Al12 and Cu86Al12Ti2 alloys, coat-like oxide layers were observed in other alloys, whereas Cu88Al12 and Cu86Al12Ti2 alloys were found to have oxide cluster regions. In all alloys, the x-ray analysis results of the oxide layers are also found.
